Toplanmayan birkaç parçacık veya gaz molekülü, bazı işlemlerde son derece ciddi sonuçlara yol açabilir. Kirli havanın yarı iletkenlerin, sabit disklerin üretimine ve diğer son derece hassas süreçlere ne gibi zararlar verebileceğini bir düşünün.
Yarı iletken üretiminde, ön uç gelişmiş üretim yöntemleri, sürekli artan temizlik gereksinimleriyle birlikte çok temiz hava beslemesi gerektirir. Plaka ortamı için kritik parçacık boyutu şu anda 25 nm'nin altındadır (2009) ve bu boyutun 2017 yılına kadar 10 nm'ye doğru küçülmeye devam edeceği yönünde tahminler yapılmaktadır. Havadaki moleküler kirlenme (AMC) artık tüm gelişmiş mikroelektronik fabrikalar için önemli bir sorundur. Üretim verimini etkileyen çok çeşitli AMC etkileri gözlemlenmiştir. Örneğin sabit disklerin veya tabakaların asidik korozyonu, hassas yüzeylerde yoğunlaşabilen organik birikim veya düşük düzeyde amonyağa maruz kalmanın çeşitli işlem adımlarını etkilediği gösterilmiştir.
Temiz odanın kalbi filtrelerdir ancak oda sınıflandırması, filtre seçimi ve filtrelerin çevreyi nasıl etkilediğiyle ilgili bir takım hususlar vardır.
SAF, mikroelektronik ve yarı iletken kirlenme kontrolü alanında 16 yılı aşkın deneyimi ve Yarı İletkenler için Uluslararası Teknoloji Yol Haritasına katılımımız sayesinde, gelişmiş parçacık ve AMC kontrolü için en iyi çözümü önermek üzere iyi bir konuma sahiptir.
HEPA, ULPA ve moleküler filtreler, SAF'ın ISO 9000 sertifikalı tesislerinde kontrollü ortamlarda üretilmektedir. Aynı tip filtreleri birden fazla üretim tesisinde üretebiliyoruz. Büyük üretim kapasitemiz, ürünlerimizin dünyanın her yerinde her zaman bulunabilirliğini sağlar.
Koruma:
-
Gofretler ve yarı iletkenler
-
Mikroelektronik proses ekipmanları
-
Sabit disk sürücüleri
-
Baskılı devre kartı
-
Düz panel ekranlar
-
Solar paneller